COLOUR CONTROL公司生产的MEMS(MOEMS)近红外光谱仪(宽波带),适用于在线非破坏性定量分析(在线检测)、定量分析及FT-NIR等领域。

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COLOUR CONTROL
MEMS近红外光谱仪(宽波带)
IrSys type Ⅰ,Ⅱ,Ⅲ,OEM


MEMS(MOEMS)近红外光谱仪(宽波带)MEMS(MOEMS)近红外光谱仪(宽波带) 放大图片

采用MEMS扫描镜双鉴探测技术的新型近红外光谱仪。
利用双鉴探测技术,实现了传统的近红外光谱仪所无法覆盖的波长领域的不同波长组合

产品特征

  • 双鉴探测技术,可覆盖宽波段测量;
  • 优异的波长分辨率;
  • 同一规格中全球最小的光谱仪。

产品用途

制药·食品·谷物·饮料·化学·石油·燃料行业中的“原材料验收、产品的出厂检验、反应及混合的过程监视”等“非破坏性定量分析·多成分同时定量分析”等不同应用领域。FT-NIR领域。

基于MEMS技术的全新分光系统

通过把MEMS元件嵌入到众所周知的Czerney-Turner光学系统内,成功实现了行业首个应用双鉴探测技术的分光光学系统。基于该技术的成功应用,消除了受光元件对测量波长的影响,进一步开拓了应用领域,成为推进新思维光谱仪之典范。
MEMS(MOEMS)近红外光谱仪 采用MEMS扫描镜的宽波段检测功能的新型近红外光谱仪。适合于在线非破坏性测量或定量分析、FT-NIR领域。

不同系列的光谱灵敏度特性对比

不同系列的光谱灵敏度特性对比:MEMS(MOEMS)近红外光谱仪

产品系列

型 号 IrSys typeⅠ IrSys typeⅡ IrSys typeⅢ IrSys type integrated-OEM※4 IrSys type simple-OEM※5
测定波长范围 660~1,730nm 910~2,390nm 910~2,100nm 适合各种光谱仪 适合各种光谱仪
受光元件 Si and InGaAs InGaAs x 2
波长分辨率 9nm(入射狭缝300µm) 13nm(入射狭缝300µm)
标准狭缝宽度 ※1 300µm
狭缝高度 1.8mm
测定时间
(单次扫描)
4ms
S/N比 7000:1 1000:1 适合各种光谱仪
波长稳定性
(扫描50次时)
<0.5nm
波长再现性
(扫描50次时)
±0.05nm
杂散光
(@1450nm)
<0.1%T
温度依赖性 0.01nm/K
工作温度范围 5~50℃
光纤连接件 SMA905
附带光纤 ※2 石英光纤:L=1m,芯径=ø400µm,NA=0.22
输入电气特性 ※3 DC24V(18~36V)/140mA
OS应用环境 Windows 2000/XP/Vista
接 口 USB USB/RS-435
外形尺寸
(WDH)
80x130x120mm 66x80x
108mm
34x66x
108mm
重 量 750g
※1.波长选项:350、250、200、150µm中任意选择。
※2.使用NA值大于标准光纤的光纤时,杂散光会有所增多。
※3.附带通用ACDC电源。
※4.比标准产品还小。
※5.拆卸type integrated-OEM灯罩,可实现产品小型化。